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Elektro Physik（EPK）测厚仪主要产品：
1. 测厚仪
Elektro Physik（EPK）测厚仪产品型号：
l MiniTest 70 F
l MiniTest 2500-4500
l MiniTest 70 E-FN
Elektro Physik（EPK）测厚仪产品特点：
测量范围 F： 0 毫米 - 3 毫米
N： 0 毫米 - 2.5 毫米
测量原理 磁感应/涡流
信号处理 传感器集成 32 位信号处理 (SIDSP®)
准确性 ±（1.5 μm + 读数的 3%），带 1 点校准 ±（0.06 mils + 读数的 3%），带 1 点校准
±（1.5 μm + 读数的 2%），带 2 点校准2 ±（0.06 mils +读数的 2%），带 2 点校准2
重复性 ±（1 μm + 读数的 1%）/±（0.04 密耳 + 读数的 1%）
低范围分辨率 0,5 微米
曲率半径凸 5 毫米
曲率半径凹 40 毫米
基材厚度 F： 0.5 毫米
N： 0.04 毫米
测量单位 公制/英制可切换
校准 标准、1 点和 2 点校准
统计数据 n、x、s、值、值
工作温度 -10 °C - 60 °C 14 °F - 140 °F
储存温度 -20 °C - 70 °C -4 °F - 158 °F
电源 1x AA (Mignon)-电池
尺寸 大约 157 毫米长度，Ø 27 毫米；5.2" 长度，Ø 1.06"
重量 ~ 80 克，2.8 盎司
Elektro Physik（EPK）测厚仪产品应用：
Elektro Physik（EPK）测厚仪迷你测试 2500-4500
Elektro Physik（EPK）测厚仪MiniTest 2500-4500 系列为涂层测量领域的各种任务提供了多种传感器、不同的校准方法和评估选项。
Elektro Physik（EPK）测厚仪涂层测厚仪 MiniTest 2500 – 4500。
无损测量涵盖以下测量范围：
0 – 50 mm，用于钢上的非磁性涂层
0 – 100 mm，用于有色金属上的绝缘涂层
耐热探头，温度为 250 °C 和 350 °C
探头都配备了耐磨杆，在研磨性基材上也能长时间使用。
两种型号都配备了一个的数据存储器，可存储多达 200 万个测量值，这些测量值可以在直接模式 (MiniTest 2500) 中获取，也可以归类为 APPLICATION-BATCH 存储结构。
通过 USB 接口向 PC 传输数据；MiniTest 4500 还提供蓝牙连接。
符合人体工程学的设计、清晰的显示屏、一键式操作和发光的键盘以及其他有用的功能为 MiniTest 2500-4500 测量仪系列增加了很高的客户价值
Elektro Physik（EPK）测厚仪迷你测试 70
MiniTest 70 可以无损测量铁磁基材（钢）上的非磁性涂层（油漆、合成材料、铬等）和导电基材（铝）上的绝缘涂层（漆、搪瓷、合成材料等） 、铜、奥氏体不锈钢）。
弹簧式传感器配备耐磨传感器极，在测量研磨性基材时也具有特别高的耐用性。
Elektro Physik（EPK）测厚仪MiniTest 70：以实用的笔式测量涂层厚度
MiniTest 70 是一款轻巧实用的涂层厚度测量仪，采用笔式，内置传感器。它有几个好处：
测量高达 3mm (F) 或 2.5mm (N)的涂层厚度
双传感器自动识别基材并设置适当的测量程序：涡流或磁感应（不包括 E 型）
可长期使用的耐磨探头
重80 克
Elektro Physik（EPK）测厚仪MiniTest 70 F
具有统计显示（读取次数、平均值、标准偏差、值、值）。
适用于铁磁基材（例如钢）。
测量范围 0 至 3 mm / 118 mils。
启用 1 点和 2 点校准。
Elektro Physik（EPK）测厚仪迷你测试 70 FN
具有统计显示（读取次数、平均值、标准偏差、值、值）。
适用于铁磁基材（例如钢）和非铁磁基材（有色金属，如铝、黄铜等）。
钢基材上的测量范围为 0 至 3 mm / 118 mils，有色金属上的测量范围为 0 至 2.5 mm / 95 mils。
启用 1 点和 2 点校准。
MiniTest 70 B-FN
Elektro Physik（EPK）测厚仪适用于铁磁基材（例如钢）和非铁磁基材（有色金属，如铝、黄铜等）。
测量范围 0 至 3 毫米/118 密耳（钢基材）和 0 至 2.5 毫米/95 密耳（非铁磁基材）黑色金属。
启用 1 点校准。
Elektro Physik（EPK）测厚仪MiniTest 70 E-FN
适用于铁磁基材（例如钢）和非铁磁基材（有色金属，如铝、黄铜等）。
钢基材上的测量范围为 0 至 3 mm / 118 mils，有色金属上的测量范围为 0 至 2.5 mm / 95 mils。